Синтезированы высокопрочные полиэтиленовые пленки с концентрацией нанокристаллического кремния (НК- Si )0,5-1,0 масс. %. Образцы нк- Si со средним размером частиц 7-10 нм были получены плазмохимическим методом и при помощи лазерно-индуцированного расщепления моносилана. Спектральные исследования показали почти полное (до ~ 95%) поглощение УФ-излучения в спектральной области 200-400 нм пленкой с толщиной 85 микрон при содержании НК-Si 1,0 мас. %. Плотность распределения размеров частиц в исходных порошках и полимерных пленках, содержащих иммобилизованные нанокристаллиты кремния, была получены с помощью моделирования полного профиля рентгеновской дифракционной картины с включением сферических частиц и логарифмически нормального распределения. Результаты рентгеноструктурного анализа показали, что функция распределения размеров кристаллитов остается практически неизменной и кристалличность исходного полимера увеличивается до 10% при введении образцов НК-Si в полимерную матрицу.
High-strength polyethylene films containing 0.5- 1.0 wt. % of nanocrystalline silicon (nc-Si) were synthesized. Samples of nc-Si with an average core diameter of 7-10 nm were produced by plasmochemical method and by laser-induced decomposition of monosilane. Spectral studies revealed almost complete (up to ~95%) absorption of UV radiation in 200-400 nm spectral region by 85 micron thick film if the nc-Si content approaches to 1.0 wt. %. The density function of particle size in the starting powders and polymer films containing immobilized silicon nanocrystallites were obtained using the modeling a complete profile of X-ray diffraction patterns, assuming spherical grains and the lognormal distribution. The results of X-ray analysis shown that the crystallite size distribution function remains almost unchanged and the crystallinity of the original polymer increases to about 10% with the implantation of the initial nc-Si samples in the polymer matrix.