<?xml version="1.0"?>
<!DOCTYPE article
PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.4 20190208//EN"
       "JATS-journalpublishing1.dtd">
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" article-type="research-article" dtd-version="1.4" xml:lang="en">
 <front>
  <journal-meta>
   <journal-id journal-id-type="publisher-id">Herald of Technological University</journal-id>
   <journal-title-group>
    <journal-title xml:lang="en">Herald of Technological University</journal-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>ВЕСТНИК ТЕХНОЛОГИЧЕСКОГО УНИВЕРСИТЕТА</trans-title>
    </trans-title-group>
   </journal-title-group>
   <issn publication-format="print">3034-4689</issn>
  </journal-meta>
  <article-meta>
   <article-id pub-id-type="publisher-id">63700</article-id>
   <article-categories>
    <subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="ru">
     <subject>Управление, информатика и вычислительная техника</subject>
    </subj-group>
    <subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="en">
     <subject></subject>
    </subj-group>
    <subj-group>
     <subject>Управление, информатика и вычислительная техника</subject>
    </subj-group>
   </article-categories>
   <title-group>
    <article-title xml:lang="en">МЕТОД FMEA КАК ПУТЬ ПОВЫШЕНИЯ КАЧЕСТВА ПРОДУКЦИИ</article-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>МЕТОД FMEA КАК ПУТЬ ПОВЫШЕНИЯ КАЧЕСТВА ПРОДУКЦИИ</trans-title>
    </trans-title-group>
   </title-group>
   <contrib-group content-type="authors">
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Алимова</surname>
       <given-names>Э К</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Alimova</surname>
       <given-names>E K</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <email>alimova-elmira@mail.ru</email>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-1"/>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Николаева</surname>
       <given-names>Н Г</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Nikolaeva</surname>
       <given-names>N G</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <email>natalia0205@yandex.ru</email>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-2"/>
    </contrib>
   </contrib-group>
   <aff-alternatives id="aff-1">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">КНИТУ</institution>
     <country>ru</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">Kazan National Research Technological University</institution>
     <country>ru</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <aff-alternatives id="aff-2">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">КНИТУ</institution>
     <country>ru</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">Kazan National Research Technological University</institution>
     <country>ru</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <pub-date publication-format="print" date-type="pub" iso-8601-date="2025-08-01T14:41:51+03:00">
    <day>01</day>
    <month>08</month>
    <year>2025</year>
   </pub-date>
   <pub-date publication-format="electronic" date-type="pub" iso-8601-date="2025-08-01T14:41:51+03:00">
    <day>01</day>
    <month>08</month>
    <year>2025</year>
   </pub-date>
   <volume>17</volume>
   <issue>14</issue>
   <fpage>476</fpage>
   <lpage>477</lpage>
   <history>
    <date date-type="received" iso-8601-date="2023-04-20T16:32:02+03:00">
     <day>20</day>
     <month>04</month>
     <year>2023</year>
    </date>
   </history>
   <self-uri xlink:href="https://vestniktu.ru/en/nauka/article/63700/view">https://vestniktu.ru/en/nauka/article/63700/view</self-uri>
   <abstract xml:lang="ru">
    <p>Все чаще высказываются справедливые опасения, что на российских предприятиях электронной промышленности ситуация с качеством и надежностью обстоит не самым лучшим образом. Увы, но это относится уже не только к предприятиям гражданской, но и оборонной отрасли. На совещании руководителей радиоэлектронной промышленности было озвучено, что 20% производимой сейчас электронно-компонентной базы не соответствуют требованиям надежности. До 40% выходов из строя входящей в состав военной техники радиоэлектронной аппаратуры происходит по причине отказов элементной базы. Однако среди предложений по исправлению сложившейся ситуации практически всегда за кадром остается методика, уже более полувека применяющаяся в промышленности западных стран при изготовлении любых видов сложной продукции - как гражданского, так и военного назначения. Данной методикой является FMEA, появление которой в послевоенные годы в США стало ответом на возрастающие требования к надежности в условиях кардинального усложнения технических систем.</p>
   </abstract>
   <trans-abstract xml:lang="en">
    <p>It is increasingly justified fears that Russian enterprises of electronic industry, the situation with the quality and reliability is not the best way. Alas, this applies not only to the enterprises of civil, but the defense industry. At the meeting of the heads of electronic industry was announced that 20% of the products are now electronic-component base does not meet the requirements of reliability. Up to 40% of outages is part of the military equipment of electronic equipment is due to failure of the element base. However, among the proposals to remedy the situation is almost always behind the scenes is a technique for more than half a century, used in the industry of Western countries in the manufacture of all types of complex products - both civilian and military purposes. This technique is the FMEA, the appearance of which in the postwar years in the United States was a response to increasing demands for reliability in a cardinal complication of technical systems.</p>
   </trans-abstract>
   <kwd-group xml:lang="ru">
    <kwd>качество</kwd>
    <kwd>анализ видов</kwd>
    <kwd>последствия отказов</kwd>
    <kwd>потенциальный дефект</kwd>
    <kwd>приоритетное число риска</kwd>
    <kwd>quality of analysis types</kwd>
    <kwd>the consequences of failure</kwd>
    <kwd>a potential defect by priority risk</kwd>
   </kwd-group>
   <kwd-group xml:lang="en">
    <kwd>качество</kwd>
    <kwd>анализ видов</kwd>
    <kwd>последствия отказов</kwd>
    <kwd>потенциальный дефект</kwd>
    <kwd>приоритетное число риска</kwd>
    <kwd>quality of analysis types</kwd>
    <kwd>the consequences of failure</kwd>
    <kwd>a potential defect by priority risk</kwd>
   </kwd-group>
  </article-meta>
 </front>
 <body>
  <p></p>
 </body>
 <back>
  <ref-list>
   <ref id="B1">
    <label>1.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Ефимов В. В. Управление качеством: Учеб. пособие. - Ульяновск: УлГТУ, 2000. - 141 с.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Efimov V. V. Upravlenie kachestvom: Ucheb. posobie. - Ul'yanovsk: UlGTU, 2000. - 141 s.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B2">
    <label>2.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Кочетков Е.П. Производство без потерь. Система методов - Методы менеджмента качества, 2005, №2, с.41-43; №3, с. 43-46.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Kochetkov E.P. Proizvodstvo bez poter'. Sistema metodov - Metody menedzhmenta kachestva, 2005, №2, s.41-43; №3, s. 43-46.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B3">
    <label>3.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Капустина А.А. Применение алгоритма расчетов на основе контрольных карт Шухарта и FMEA - анализа для повышения качества и эффективности работы научно-исследовательских лабораторий. / Капустина А. А., Рувинский О.Е., Христюк В.Т. // Вестник КНИТУ 2013. т.16,№15,с.141-147</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Kapustina A.A. Primenenie algoritma raschetov na osnove kontrol'nyh kart Shuharta i FMEA - analiza dlya povysheniya kachestva i effektivnosti raboty nauchno-issledovatel'skih laboratoriy. / Kapustina A. A., Ruvinskiy O.E., Hristyuk V.T. // Vestnik KNITU 2013. t.16,№15,s.141-147</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
  </ref-list>
 </back>
</article>
