Показано, что повышение чувствительности радиографического фотоматериала при экспонировании с усиливающими экранами определяется средним размером микрокристаллов AgHaL . Каждому среднему размеру при определенной энергии ионизирующего излучения соответствует оптимальная толщина усиливающего экрана, которая, вероятно, зависит от длины пробега электронов, образующихся при поглощении излучения.
It is shown that increasing the sensitivity of x-ray films exposed with intensifying screens is determined by average sizes of microcrystals AgHal. Each average sizes at a given energy of radiation corresponds to the optimal thickness of the intensifying screens, which is likely to depend on the mean free path of electrons produced by absorption of radiation.