ОПРЕДЕЛЕНИЕ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ СВОЙСТВ ВОДНЫХ РАСТВОРОВ ПАВ ПРОИЗВОДСТВА ООО «ШИХ»
Авторы:
1.
КНИТУ
2.
Казанский национальный исследовательский технологический университет
3.
Казанский национальный исследовательский технологический университет
(Кафедра Общей химической технологии, ассистент)
сотрудник с 01.01.2024 по 01.01.2025
Казань, Республика Татарстан, Россия
сотрудник с 01.01.2024 по 01.01.2025
Казань, Республика Татарстан, Россия
Тип:
Статья
Страницы:
с 146
по 149
Статус:
Опубликован
Получено:
24.12.2025
Одобрено:
21.01.2026
Опубликовано:
26.02.2026
Язык материала:
русский
Ключевые слова:
ПОВЕРХНОСТНОЕ НАТЯЖЕНИЕ, ПОВЕРХНОСТНО-АКТИВНЫЕ ВЕЩЕСТВА (ПАВ), РАЗМЕР ЧАСТИЦ, ζ-ПОТЕНЦИАЛ, КРИТИЧЕСКАЯ КОНЦЕНТРАЦИЯ МИЦЕЛЛООБРАЗОВАНИЯ
Аннотация:
Изучены функциональные свойства ПАВ (СН-22Ш, СН-МБ - композиции из анионных и неионогенных ПАВ, СН-20-з - неионогенный ПАВ) производства ООО «Шебекинская индустриальная химия». На тензиометре фирмы KRUSS определены значения поверхностного натяжения, благодаря которым выявлено, что исследуемые образцы проявляют высокую поверхностную активность и способы к образованию коллоидных ПАВ: критическая концентрация мицеллообразования (ККМ) составила от 0,25 до 0,5 г/л. Среди исследуемых препаратов незначительно выделяется СН-20-з, у которого даже при небольшой концентрации (0,0625 г/л) резко сокращается поверхностное натяжение от 72,0 до 35,0 мН/м, после чего рост концентрации практически не влияет на изменение характера изотермы. Эксперименты по определению размеров частиц и дзета потенциала изучаемых ПАВ были проведены на анализаторе размера частиц Zetasizer Nano компании Malvern. Установлено наличие в образцах как нано, так и микрочастиц. Минимальное значение гидродинамического радиуса частиц до ККМ составило 99,3 нм для СН-22-Ш, максимальное - для СН-20-з. После ККМ рост продолжился и составил соответственно 294,6 нм и 625,7 нм. Для СН-МБ существенной разницы до стадии мицелообразования и после нее не наблюдалось и радиус частиц составил 241,1 нм-257,8 нм. Установлено, что исследуемые СН-22Ш и СН-МБ обладают высокой агрегативной устойчивостью начиная с концентраций 4,0 г/л и 0,4 г/л соответственно. Для СН-20-з количество ПАВ, при котором наблюдается агрегативная устойчивость не найдена: значения ζ-потенциала не фиксировались в диапазоне 30мВ< ζ<-30 мВ во всем интервале концентраций.
Изучены функциональные свойства ПАВ (СН-22Ш, СН-МБ - композиции из анионных и неионогенных ПАВ, СН-20-з - неионогенный ПАВ) производства ООО «Шебекинская индустриальная химия». На тензиометре фирмы KRUSS определены значения поверхностного натяжения, благодаря которым выявлено, что исследуемые образцы проявляют высокую поверхностную активность и способы к образованию коллоидных ПАВ: критическая концентрация мицеллообразования (ККМ) составила от 0,25 до 0,5 г/л. Среди исследуемых препаратов незначительно выделяется СН-20-з, у которого даже при небольшой концентрации (0,0625 г/л) резко сокращается поверхностное натяжение от 72,0 до 35,0 мН/м, после чего рост концентрации практически не влияет на изменение характера изотермы. Эксперименты по определению размеров частиц и дзета потенциала изучаемых ПАВ были проведены на анализаторе размера частиц Zetasizer Nano компании Malvern. Установлено наличие в образцах как нано, так и микрочастиц. Минимальное значение гидродинамического радиуса частиц до ККМ составило 99,3 нм для СН-22-Ш, максимальное - для СН-20-з. После ККМ рост продолжился и составил соответственно 294,6 нм и 625,7 нм. Для СН-МБ существенной разницы до стадии мицелообразования и после нее не наблюдалось и радиус частиц составил 241,1 нм-257,8 нм. Установлено, что исследуемые СН-22Ш и СН-МБ обладают высокой агрегативной устойчивостью начиная с концентраций 4,0 г/л и 0,4 г/л соответственно. Для СН-20-з количество ПАВ, при котором наблюдается агрегативная устойчивость не найдена: значения ζ-потенциала не фиксировались в диапазоне 30мВ< ζ<-30 мВ во всем интервале концентраций.
Ключевые слова:
ПОВЕРХНОСТНОЕ НАТЯЖЕНИЕ, ПОВЕРХНОСТНО-АКТИВНЫЕ ВЕЩЕСТВА (ПАВ), РАЗМЕР ЧАСТИЦ, ζ-ПОТЕНЦИАЛ, КРИТИЧЕСКАЯ КОНЦЕНТРАЦИЯ МИЦЕЛЛООБРАЗОВАНИЯ
ПОВЕРХНОСТНОЕ НАТЯЖЕНИЕ, ПОВЕРХНОСТНО-АКТИВНЫЕ ВЕЩЕСТВА (ПАВ), РАЗМЕР ЧАСТИЦ, ζ-ПОТЕНЦИАЛ, КРИТИЧЕСКАЯ КОНЦЕНТРАЦИЯ МИЦЕЛЛООБРАЗОВАНИЯ
